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晶片粘附力剥离强度测试

北检官网    发布时间:2026-03-26     点击量:         关键字:晶片粘附力剥离强度测试测试标准,晶片粘附力剥离强度测试项目报价,晶片粘附力剥离强度测试测试机构

晶片粘附力剥离强度测试摘要:本检测详细阐述了晶片粘附力剥离强度测试这一关键微电子与封装技术。文章系统性地介绍了该测试的核心检测项目、广泛的适用范围、主流的检测方法以及所需的精密仪器设备。通过四个主要部分,旨在为半导体制造、封装工艺及材料研发领域的工程师和技术人员提供全面的技术参考与实践指导。  


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检测项目

芯片与基板剥离强度:评估芯片(Die)与封装基板或引线框架之间粘合材料(如DAF、银胶)的界面结合牢固度。

晶圆背面薄膜剥离力:测量临时键合或减薄工艺中,晶圆背面与承载薄膜或载片之间的粘附力。

塑封料与芯片表面剥离强度:检测塑封环氧树脂等封装材料与芯片钝化层表面的粘接可靠性。

凸点下金属层(UBM)粘附力:测试焊料凸点底部金属层与芯片焊盘之间的界面结合强度。

钝化层与金属布线粘附力:评估芯片内部各介质层(如SiN, SiO2)与金属互连线之间的界面粘附性能。

导热界面材料(TIM)剥离强度:测量散热片与芯片表面之间导热硅脂、相变材料或导热垫的粘附力。

晶圆级封装再布线层(RDL)粘附力:测试再布线层聚合物介质与下方芯片表面或另一层介质间的结合强度。

临时键合胶层剥离强度:针对3D集成等工艺,评估临时键合胶在工艺过程中的粘附力及解键合时的剥离特性。

芯片贴装胶(DAF/银胶)内聚强度:不仅测试界面,也评估粘合剂材料本身的内聚强度,防止内聚破坏。

封装体内部界面分层强度:综合评估封装完成后,内部各材料界面(如模塑料/基板、芯片/模塑料)的抗分层能力。

检测范围

半导体芯片(Die):已完成制造的各类硅基、化合物半导体裸芯片,是粘附力测试的核心对象。

晶圆(Wafer):包括完整晶圆、减薄后的晶圆以及带有临时键合载片的晶圆。

封装基板:有机层压板(如BT, ABF)、陶瓷基板等,用于承载和电气连接芯片。

引线框架:传统封装中用于承载芯片并提供引脚的金属框架。

各类粘合剂:如芯片贴装薄膜(DAF)、银填充导电胶、非导电胶、临时键合胶等。

钝化层与介质材料:芯片表面的氮化硅、聚酰亚胺、二氧化硅等保护层和绝缘层。

金属化层与凸点:芯片焊盘、再布线层(RDL)、凸点下金属层(UBM)及焊料凸点。

塑封料与封装体:环氧模塑料(EMC)及其形成的完整封装外壳。

散热与界面材料:导热膏、导热垫片、相变材料及附着其上的散热器或热沉。

柔性电路与薄膜:在柔性电子或特殊封装中使用的聚酰亚胺等柔性基材和覆盖膜。

检测方法

90度/180度剥离测试:最经典的方法,使用拉伸试验机以固定角度剥离胶带或样品,测量稳态剥离力。

剪切强度测试(Die Shear):通过水平推力将芯片从基板上推离,用于评估芯片贴装材料的粘附与内聚强度。

四点弯曲测试:用于评估薄膜或涂层与基体间的界面韧性,通过测量裂纹扩展能量计算粘附力。

划痕测试法:使用金刚石压头在涂层表面划刻,通过临界载荷来定性或半定量评估膜基结合力。

鼓泡测试法:在基板与薄膜间注入加压流体形成鼓泡,通过测量鼓泡压力与半径计算界面粘附能。

拉伸粘结强度测试:将样品粘接在两个对偶件之间,进行垂直方向的拉伸,直接测量断裂强度。

激光剥离法:利用激光脉冲在界面产生应力波,使界面分离,通过测量所需激光能量来评估粘附力。

声发射监测法:在力学测试过程中同步监测材料开裂或分层时释放的声波信号,判断失效起始点。

扫描探针显微镜法:利用AFM等设备的探针进行纳米尺度的推、拉、挑操作,测量微观局部粘附力。

离心剥离测试:将样品置于高速旋转的离心机上,通过离心力使芯片或薄膜剥离,用于微小样品的批量测试。

检测仪器设备

万能材料试验机:核心设备,配备高精度力传感器和位移控制器,用于执行剥离、拉伸、剪切等测试。

芯片剪切力测试仪:专用于半导体行业的精密仪器,可控制推刀高度和速度,进行芯片剪切测试。

剥离强度测试仪:专门设计用于胶带、薄膜等材料90/180度剥离测试的台式或落地式仪器。

纳米压痕/划痕仪:集成高分辨率压头和传感器,用于微观和纳米尺度的划痕测试与力学性能表征。

四点弯曲测试夹具与系统:通常作为材料试验机的专用夹具,用于实施四点弯曲实验。

激光剥离分析系统:集成脉冲激光器、高速摄像机和力/位移传感器,用于非接触式界面强度评估。

声发射检测系统:包括高灵敏度传感器、前置放大器和数据分析软件,用于实时监测测试过程中的界面失效。

原子力显微镜:具备力学测量模式的AFM,可在纳米尺度上测量探针与样品表面的粘附力。

离心加速度测试机:可产生极高离心加速度的设备,用于模拟高过载或进行离心剥离测试。

高倍率光学显微镜与电子显微镜:用于测试前后样品的观察和失效模式分析,如界面形貌、断裂面分析等。

检测优势

1. 确保安全:通过检测可以确保防爆用呆扳手的安全性,防止在使用过程中引发火灾或爆炸。

2. 提高质量:通过检测可以提高防爆用呆扳手的产品质量,增强其市场竞争力。

3. 延长使用寿命:通过检测可以发现呆扳手的潜在问题,及时进行维修和更换,延长其使用寿命。

4. 降低维护成本:通过定期检测可以及时发现呆扳手的问题,避免因故障导致的停机和维修成本。

5. 提高工作效率:通过检测可以确保呆扳手的正常使用,提高工作效率,减少因工具故障导致的生产损失。

  以上是关于晶片粘附力剥离强度测试相关的简单介绍,具体试验/检测周期、方法和步骤以与工程师沟通为准。北检研究院将持续跟进新的技术和标准,工程师会根据不同产品类型的特点,选取相应的检测项目和方法,以最大程度满足客户的需求和市场的要求。

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