颗粒硅核心检测指标包含七大类别：粒径分布参数（D10/D50/D90）、堆积密度与振实密度、元素组成及杂质含量（Fe/Al/Ca等金属杂质）、表面形貌特征（球形度/孔隙率）、晶体结构完整性（结晶度/晶格缺陷）、热稳定性参数（TG-DSC曲线）以及电学性能（电阻率/载流子浓度）。其中粒径分布直接影响流动性与填充性能，金属杂质含量对半导体级材料具有ppm级控制要求。
本检测体系适用于：1.光伏行业多晶硅原料及单晶硅棒破碎料；2.半导体级电子特气沉积用高纯硅粉（纯度≥99.9999%）；3.化工催化剂载体用多孔硅微球（孔径10-500nm）；4.锂电池负极材料用纳米硅碳复合材料（粒径≤200nm）；5.陶瓷复合材料增强相用碳化硅前驱体。特殊形态包括球形硅粉、破碎料及包覆改性材料均纳入检测范畴。
1.激光衍射法（ISO 13320）测定粒径分布：采用湿法分散消除团聚影响
2.气体置换法（GB/T 5162）测定真密度：氦气作为置换介质
3.GD-MS辉光放电质谱（ASTM F1710）分析痕量杂质：检出限达0.01ppb
4.SEM-EDS联用表征表面形貌与元素分布：加速电压5-20kV可调
5.XRD全谱拟合（Rietveld法）计算结晶度：Cu-Kα辐射源
6.四探针法（GB/T 1551）测试电阻率：恒流源精度±0.05%
7.TGA-DSC同步热分析（ISO 11358）：升温速率5℃/min
1.马尔文Mastersizer 3000激光粒度仪：测量范围10nm-3.5mm
2.Micromeritics AccuPyc II 1340真密度仪：分辨率0.0001g/cm³
3.Thermo Scientific ELEMENT GDMS：质量分辨率＞10,000
4.Hitachi SU5000场发射电镜：二次电子分辨率1.0nm@15kV
5.Bruker D8 ADVANCE X射线衍射仪：角度重复性±0.0001°
6.Keysight B2902A精密源表：电流分辨率10fA
7.NetZSCH STA 449F3同步热分析仪：温度精度±0.1℃
配套设备包含超声波分散系统（功率可调至500W）、高纯氩气手套箱（氧含量＜0.1ppm）及振动筛分机（符合GB/T 6005标准
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
以上是关于颗粒硅检测相关的简单介绍，具体试验/检测周期、方法和步骤以与工程师沟通为准。北检研究院将持续跟进新的技术和标准，工程师会根据不同产品类型的特点，选取相应的检测项目和方法，以最大程度满足客户的需求和市场的要求。
北检院拥有完善的基础实验平台、先进的实验设备、强大的技术团队、标准的操作流程、优质的合作平台和强大的工程师网络。我们为各大院校以及中小型企业提供多种服务，其中包括：
· 基本参数、机械强度、电气性能、生物试验、特殊性能的分析测试，涵盖了生物药物、医疗器械、机械设备及配件、仪器仪表、装饰材料及制品、纺织品、服装、建筑材料、化妆品、日用品、化工产品(包括危险化学品、监控化学品、民用爆炸物品、易制毒化学品)等多个领域。我们的服务覆盖了全方位的研究和检测需求，并为客户提供高效、准确的数据报告，以支持您的研发和市场质量把控。
其中，本研究院设有七大基础服务平台，分别是：细胞生物学研究平台、分子生物学研究平台、病理学研究平台、免疫学研究平台、动物模型研究平台、蛋白质与多肽研究平台以及测序和芯片研究平台。北检研究院提供全面、正规、严谨的服务，为您的研究保驾护航，确保研究成果的准确和深入。
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