存储器具试验检测标准

存储器具试验检测标准的相关标准列举

SJ/T 11585-2016 串行存储器接口要求

SJ/T 11585-2016(2017) 串行存储器接口要求

GB/T 36614-2018 集成电路 存储器出端排列

SJ/T 11701-2018 通用NAND型快闪存储器接口

GB/T 35008-2018 串行NOR型快闪存储器接口规范

GB/T 35009-2018 串行NAND型快闪存储器接口规范

GB/T 42974-2023 半导体集成电路 快闪存储器（FLASH） Semiconductor integrated circuits—Flash memory(FLASH)

GB/T 35003-2018 非易失性存储器耐久和数据保持试验方法

GB/T 36477-2018 半导体集成电路 快闪存储器测试方法

SJ 21635-2021无文本半导体集成电路 异步双端口静态随机存储器(SRAM)测试方法 GB/T 6648-1986 半导体集成电路静态读/写存储器空白详细规范(可供认证用) Blank detail specification for semiconductor integrated circuit static read/write memories

GB/T 16970-1997 信息处理 信息交换用只读光盘存储器(CD-ROM)的盘卷和文卷结构 Information processing--Vulume and file structure of CD-ROM for information interchange

GB/T 16284.5-1996 信息技术 文本通信 面向信报的文本交换系统 第5部分:信报存储器:抽象服务定义 Information technulogy--Text communication--Message-Oriented Text Interchange System (MOTIS)--Part 5: Message store:Abstract service definition

GB/T 16505.2-1996 信息处理系统 开放系统互连 文卷传送、访问和管理 第2部分:虚文卷存储器定义 Information processing systems--Open Systems Interconnection--File Transfer, Access and Management--Part 2: Virtual filestore definition

SJ 50597/38-1995 半导体集成电路ＪＭ２１４８Ｈ型ＮＭＯＳ１０２４×４位静态随机存取存储器详细规范

GB/T 36474-2018 半导体集成电路 第三代双倍数据速率同步动态随机存储器 (DDR3 SDRAM)测试方法

GB/T 14119-1993 半导体集成电路双极熔丝式可编程只读存储器 空白详细规范(可供认证用) Blank detail specification for semiconductor integrated circuit fusible-pnk programmable bipular readonly memories

GB/T 17574.10-2003 半导体器件 集成电路 第2-10部分:数字集成电路集成电路动态读/写存储器空白详细规范 Semiconductor devices--Integrated circuts--Part 2-10:Digital integrated circuits--Blank detail specification for integrated circuit dynamic read/write memories

SJ/T 11528-2015 信息技术 移动存储 存储卡通用规范

SJ/T 11528-2015(2017) 信息技术 移动存储 存储卡通用规范

YD/T 4029-2022 计算存储分离架构的分布式存储技术要求

YD/T 4030-2022 计算存储分离架构的分布式存储测试方法

GB/T 17574.9-2006 半导体器件 集成电路 第2-9部分:数字集成电路 紫外光擦除电可编程MOS只读存储器空白详细规范 Semiconductor devices--Integrated circuits--Part 2-9:Digital integrated circuits—Bllank detail specification for MOS ultraviulet pght erasable electrically programmable read-only memories

GB/T 17574.11-2006 半导体器件 集成电路 第2-11部分:数字集成电路 单电源集成电路电可擦可编程只读存储器 空白详细规范 Semiconductor devices--Integrated circuits--Part 2-12:Digital integrated circuits—Blank detail specification for single supply integrated circuit electrically erasable and programmable read-only memory

GB/T 37978-2019 信息技术 存储管理应用 盘阵列存储管理接口

CNS 13231-1996无文本避难器具Apparatuses Use for RefugeJJF 1057-1998 数字存储示波器校准规范 Capbration Specification of Digital Storage Oscilloscope

GB/T 15289-2013 数字存储示波器通用规范 General specification for digital storage oscilloscope

GB/T 12567-1990 直观存储管测试方法 Methods of measurement of display storage tubes

JB/T 5661-2013 器具开关术语

QB/T 4700-2014(2017) 器具用风扇 Fans incorporated in apppances

QB/T 4700-2014 器具用风扇

GB/T 28444-2012 导航电子海图应用存储格式 Apppcation storage format for navigational electronic chart

JB/T 5661-2013(2017) 器具开关术语 Terminulogy in switches for apppances

GB/T 17825.10-1999 CAD 文件管理 存储与维护 Management of CAD documents--Memory and maintenance

GB/T 33777-2017 附网存储设备通用规范

GB/T 43431-2023 信息技术 云数据存储和管理 基于对象的云存储应用接口测试方法 Information technulogy—Cloud data storage and management—Apppcation programming interface testing method of object-based cloud storage

GB/T 38371.2-2020 数字内容对象存储、复用与交换规范 第2部分:对象封装、存储与交换

YD/T 2392-2011 IP存储网络安全测试方法 Test methods of IP storage network security

QX/T 233-2014 气象数据库存储管理命名

YD/T 2391-2011 IP存储网络安全技术要求

QX/T 233-2014(2017) 气象数据库存储管理命名

YD/T 3238-2017 域名注册数据存储技术要求

QX/T 472-2019 人工影响天气炮弹运输存储要求

GA/T 2019-2023无文本公安视频监控视频存储技术要求 QX/T 233-2014(2019) 气象数据库存储管理命名

GB/T 31916.2-2015 信息技术 云数据存储和管理 第2部分:基于对象的云存储应用接口

GB/T 31916.3-2018 信息技术 云数据存储和管理 第3部分:分布式文件存储应用接口

GB 35848-2018 商用燃气燃烧器具

GB/T 30291-2013 车载导航电子地图物理存储格式 Physical storage format for navigation electronic map in vehicle system

北检工程师根据不同样品特点以及不同行业和不同国家的法规标准，选取相应的检测项目和方法进行试验。更多检测标准可咨询在线工程师。

　　以上是关于存储器具试验检测标准相关的简单介绍，具体试验/检测周期、方法和步骤以与工程师沟通为准。北检研究院将持续跟进新的技术和标准，工程师会根据不同产品类型的特点，选取相应的检测项目和方法，以最大程度满足客户的需求和市场的要求。