北检(北京)检测技术研究院电子元器件失效分析范围：开路、短路、漏电、功能失效等，电子元器件失效分析项目：显微形貌分析、表面元素分析等，北检院实验室可根据GB/T 2689.1-1981、GB/T 7289-2017等相应电子元器件失效分析标准为合作伙伴提供分析服务，检测周期：常规试验7-15个工作日出具电子元器件失效分析报告
电测：连接性测试、电参数测试、功能测试等;
无损检测：射线检测技术( X 射线、γ 射线、中子射线等)，工业CT,康普顿背散射成像(CST)技术，超声检测技术(穿透法、脉冲反射法、串列法)，红外热波检测技术，声发射检测技术，涡流检测技术，微波检测技术，激光全息检验法等
显微形貌分析：光学显微分析技术、扫描电子显微镜二次电子像技术等
表面元素分析：扫描电镜及能谱分析(SEM/EDS)、俄歇电子能谱分析(AES)、X射线光电子能谱分析(XPS)、二次离子质谱分析(SIMS)等
无损分析技术：X射线透视技术、三维透视技术、反射式扫描声学显微技术(C-SAM)等
CEI EN 61709-2012 IEC 61709：1996电子元器件 可靠性 失效率的标准条件和转换的应力模型
DIN EN 61709-1999 电子元器件.可靠性.失效率和转变应力模式的参考条件
GB/T 2689.1-1981 恒定应力寿命试验和加速寿命试验方法总则
GB/T 7289-2017 电学元器件 可靠性 失效率的基准条件和失效率转换的应力模型
GB/T 21711.7-2018 基础机电继电器 第7部分：试验和测量程序
QJ 1317A-2005 电子元器件失效分类及代码
QJ 2663-1994 航天电子元器件失效数据采集卡及填写规定
T/CIE 115-2021 电子元器件失效机理、模式及影响分析(FMMEA)通用方法和程序
1、北检院拥有严格的质量控制体系与完善的后期服务
2、检测项目覆盖领域广泛
3、仪器设备及其他辅助实验设施齐全，持续加强检测研发实力。
4、提供全方位解决方案
5、注重信息安全：签订保密协议，注重保护客户隐私。
6、北检院遵从诚信、严谨、服务、共赢”的服务理念。
以上是关于电子元器件失效分析相关的简单介绍，具体试验/检测周期、方法和步骤以与工程师沟通为准。北检研究院将持续跟进新的技术和标准，工程师会根据不同产品类型的特点，选取相应的检测项目和方法，以最大程度满足客户的需求和市场的要求。
北检院拥有完善的基础实验平台、先进的实验设备、强大的技术团队、标准的操作流程、优质的合作平台和强大的工程师网络。我们为各大院校以及中小型企业提供多种服务，其中包括：
· 基本参数、机械强度、电气性能、生物试验、特殊性能的分析测试，涵盖了生物药物、医疗器械、机械设备及配件、仪器仪表、装饰材料及制品、纺织品、服装、建筑材料、化妆品、日用品、化工产品(包括危险化学品、监控化学品、民用爆炸物品、易制毒化学品)等多个领域。我们的服务覆盖了全方位的研究和检测需求，并为客户提供高效、准确的数据报告，以支持您的研发和市场质量把控。
其中，本研究院设有七大基础服务平台，分别是：细胞生物学研究平台、分子生物学研究平台、病理学研究平台、免疫学研究平台、动物模型研究平台、蛋白质与多肽研究平台以及测序和芯片研究平台。北检研究院提供全面、正规、严谨的服务，为您的研究保驾护航，确保研究成果的准确和深入。
此外，本研究院还设有四大创新研发中心，包括分子诊断开发平台，CRISPR/Cas9靶向基因修饰药物开发平台，纳米靶向载药创新平台，创新药物筛选平台。这些研发中心运用新技术和新方法，为您提供创新思路和破局之策。
不仅如此，本院还为从事相关研究的团队和企业，提供个性化服务，为您的项目量身定制解决方案。无论是公司研发项目，还是个人或团队的研究，我们都将全力协助，以期更好地推动科学事业的发展。
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